膜厚測量儀，鍍層厚度檢測儀，金屬膜厚儀快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設計。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層

膜厚測量儀，鍍層厚度檢測儀，金屬膜厚儀快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設計。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。 可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
zui多24種鍍層（使用WinFTM? V.6軟件）。
鍍層厚度測量儀，金屬膜厚儀分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素  膜厚測量儀，鍍層厚度檢測儀，是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統。
    它的出現解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰。這種創新技術的，目前正在申請的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度，這就可以在小到幾?reg;微米的結構上進行測量。

     在經濟上遠遠優于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。XDVM-μ可以勝任測量傳統的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。

     具有強大功能的X-射線XDVM-μ帶WinFTM? V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。有需要的有友請希望我們能成為*的合作伙伴
讓客戶滿意，為客戶創造zui大的價值是金霖始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖！.：王生：   ：  www.kinglinhk.com  地址：寶安中心區宏發中心大廈