菲希爾 XDVM測厚儀可滿足所有鍍層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層測量儀，實現了超微小面積，高精度無損測量。

菲希爾 XDVM測厚儀，是針對高要求用戶設計的，能夠測量極精密的樣品，如：微形部件或線路板上極微細的表面結構，它的新穎X－射線光學鏡片，創新的X-射線光學原理，使這部儀器能產生非常小，但高輻射強度的測量點，所以，測量數十微米的面積的結構也變成可能。配備了半導體接收器適合測量薄到數NM的鍍層，FISCHERSCOPE X-RAY XDVM測厚儀，還能測量出范圍從元素氯（Z＝13）至鈾（Z ＝92）。主要應用于線路板測試、極細的鉛框一片片的掃描（面積），如：硬盤鍍層、細微的線。有*精度，可編程的XYZ測量臺及大移動范圍，測量室為長方形內槽設計，容許放入大面積的物件進行測量。測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數據，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業意見與技術扶持，值得您的信賴。：王生：   ：     地址：寶安中心區宏發中心大廈