半導體分立器件來料檢測儀iv,cv曲線測試機具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材料研究、半導體芯片器件設計以及仙進工藝的開發，具有桌越的測量效率與可靠性。

SPA6100半導體參數分析儀配置有多種不同規格的SMU，如低壓直流SMU、低壓脈沖SMU、大電流SMU；用戶可根據測試需求靈活配置不同規格，以及不同數量的搭配。更多有關半導體分立器件來料檢測儀iv,cv曲線測試機詳情上普賽斯儀表官&網咨詢

產品特點：

30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力；

測量精度高,全量程下可達0.03%精度；

內置標準器件測試程序，直接調用測試簡便；

自動實時參數提取，數據繪圖、分析函數；

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線；
提供靈活的夾具定制方案，兼容性強；

免費提供上位機軟件及SCPI指令集；

典型應用：

納米、柔性等材料特性分析；

二極管；

MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；

第三代半導體材料/器件；

有機OFET器件；

LED、OLED、光電器件；

半導體電阻式等傳感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管；

電阻率系數和霍爾效應測量；

太陽能電池；

非易失性存儲設備；

失效分析；

半導體分立器件來料檢測儀iv,cv曲線測試機訂貨信息